插片开启挂锁及其痕迹检验
周建强 李发渝 金黎明
刑事技术 . 1998, (6): 36 .  DOI: 10.16467/j.1008-3650.1998.06.019

京ICP备09053967号-3
版权所有 © 《刑事技术》编辑部
地址：北京市西城区木樨地南里17号　
邮编：100038　
电话：010-66269489，010-83752624　
E-mail：xsjsbjb@163.com
技术支持：北京玛格泰克科技发展有限公司